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PXI平台发展强势，为智能设备测试带来更多可能
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《国外电子测量技术》


PXI platform bring more possibilities for the smart device testing
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FEMT

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贾静. PXI平台发展强势，为智能设备测试带来更多可能[J].国外电子测量技术,2016,35(6):16-18

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  • 在线发布日期: 2016-07-15
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