板级边界扫描测试技术，也就是IEEE-1149.1标准在电子行业得到了广泛的认可。对于一个特定的电路设计项 目，为了实现最高的测试覆盖率和最优的测试性能，详尽的可测试性分析是不可或缺的。边界扫描的可测试性设计不仅 仅是选择支持JTAG扫描链的芯片及设定芯片特定引脚这么简单，还需要关注边界扫描芯片周围的逻辑器件或存储器的簇 测试。本文描述了边界扫描进行电路板测试的常用测试项并提出利用边界扫描技术提高测试覆盖率的一些方法。