--请选择--
中文标题
英文标题
作者中文名
作者英文名
中文摘要
英文摘要
中文关键词
英文关键词
单位中文名
单位英文名
中图分类号
DOI
+高级检索
网站首页
杂志简介
在线阅读
投稿须知
欢迎订阅
联系我们
首页
>
过刊浏览
>
2016年第35卷第10期
>102-102
优先出版
PDF
HTML阅读
XML下载
导出引用
引用提醒
NI进一步优化了TestStand测试执行软件
DOI:
CSTR:
[cstr]
作者:
在期刊界中查找
在百度中查找
在本站中查找
作者单位:
作者简介:
通讯作者:
中图分类号:
基金项目:
Author:
在期刊界中查找
在百度中查找
在本站中查找
Affiliation:
Fund Project:
摘要
|
图/表
|
访问统计
|
参考文献
|
相似文献 [20]
|
引证文献
|
资源附件
|
文章评论
摘要:
Abstract:
参考文献
相似文献
[1]
全新NI FlexRIO FPGA适配器模块基于PXI平台 进一步扩展了软件定义的仪器系列应用
[J].国外电子测量技术
[2]
NI LabWindows/CVI 8.0加速测试的执行和发布
[J].国外电子测量技术
[3]
全新NI TestStand 2010推出,更强大的测试软件开发工具进一步增强团队合作支持
[J].国外电子测量技术
[4]
NI全新交互式测量软件SignalExpress使设计与测试走向融合
[J].国外电子测量技术
[5]
于建林,唐晓莉,丁国兴.
基于TestStand的测试系统及应用
[J].国外电子测量技术,2004,23(2):6-7,9.
[6]
新版NI TestStand 3.0加快了自动化测试程序的开发和发布
[J].国外电子测量技术
[7]
National Instruments TestStand 2.0荣获久负盛名的测试行业奖
[J].国外电子测量技术
[8]
PXI可编程放大器和衰减器扩大了NI射频和微波测试产品线
[J].国外电子测量技术
[9]
NI TestStand 4.1利用多核技术支持加速并行测试性能测试工程师们现在可以开发更高速的测试系统以提高系统吞吐量
[J].国外电子测量技术
[10]
使用NI PXI可编程电源优化自动化测试系统
[J].电子测量与仪器学报
[11]
NI单槽式机箱进一步扩展NICompactDAQ平台
[J].电气时代
[12]
NI展示了全新的mmWave 802.11ad无线测试技术
[J].电子测量技术
[13]
NI全新交互式测量软件SignalExpress使设计与测试走向融合
[J].电子测量技术
[14]
NI推出便携式测试系统CompactDAQ
[J].电子测量技术
[15]
NI TestStand 4.0全新简化的序列编辑器加速测试系统开发
[J].电气时代
[16]
NI正式推出LabVIEW SignalExpress软件,极大地简化了测量任务
[J].电子测量与仪器学报
[17]
NI推出最新可用于自动化测试开发应用的NI TestStand ATML工具包
[J].电子测量技术
[18]
NI推出最新可用于自动化测试开发应用的NI TestStand ATML工具包
[J].电子测量与仪器学报
[19]
NI LabVIEW 2009新版软件 有效应对复杂测试应用开发的挑战
[J].电气时代
[20]
NI推出最新可用于自动化测试开发应用的NI TestStand ATML工具包新款工具包在NI TestStand平台上有效提升了ATML功能
[J].电子测量与仪器学报
引证文献
网友评论
网友评论
分享到微博
发 布
引用本文
. NI进一步优化了TestStand测试执行软件[J].国外电子测量技术,2016,35(10):102
复制
分享
微信扫一扫:分享
微信里点“发现”,扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
文章指标
点击次数:
909
下载次数:
1360
HTML阅读次数:
0
引用次数:
0
历史
收稿日期:
最后修改日期:
录用日期:
在线发布日期:
2016-11-23
出版日期:
文章二维码
×
《国外电子测量技术》
2025年投稿方式有变