摘要:随着近似电路可用性增加，评估其可靠性变得十分必要。基于概率门模型(probabilistic gate model,PGM),提出了一 种精确、高效的近似电路可靠性评估方法。该方法基于概率门模型将电路转换为概率多项式，并对引发相关性问题的扇出端 门电路变量进行降阶操作，从而消除相关性对结果精确度的影响，面向输入向量进行有针对性的可靠性分析，经实验，该方法 比蒙特卡洛方法快5个数量级，快于对比方法近50%,在中大型电路中以相当的速度保证了较高的精准度。并且，基于所提 出的方法使用遗传算法进行了近似电路可靠度界限的搜索，以便辅助设计者评测近似电路的可用性，并针对所研究的问题， 对遗传算法进行了改进，实验结果表明，改进后的遗传算法具有更好的效果，在近似电路可靠度计算和可靠度界限搜索中有 较好效果。