摘要:测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标，它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中，进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果，因此各种进化算法被广泛地应用于SoC测试多目标优化的研究中。对SoC测试时间、测试功耗这两个测试目标建立联合优化模型，分析了NSGAII算法与SPEAII算法的特点，并对改进型强度Pareto进化算法(SPEAⅡ)进行研究，进而将SPEAII算法用于上述所建立模型的求解。使用ITC’02标准电路中p93791电路和d695电路对上述方法进行实验验证, 实验数据表明上述方法可以求得该联合优化模型的一组最优解；并且针对p93791电路，在与NSGAII算法的实验数据比较中，得到了更好的优化结果。证明了SPEAII算法对SoC测试结构优化方面具有良好的适用性和可行性。