贾静.PXI平台发展强势,为智能设备测试带来更多可能[J].国外电子测量技术,2016,35(6):16-18
PXI平台发展强势,为智能设备测试带来更多可能
PXI platform bring more possibilities for the smart device testing
  
DOI:
中文关键词:  NI  PXI  5G
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作者单位
贾静 《国外电子测量技术》 
AuthorInstitution
Jia Jing FEMT 
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